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熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)對(duì)電池組件進(jìn)行檢測(cè)的目的是什么

日期：2024-09-20 07:30

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摘要：熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)是僅對(duì)太陽(yáng)能薄膜光伏組件試驗(yàn)的設(shè)備，用于確定太陽(yáng)能薄膜光伏組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，即測(cè)得模擬環(huán)境氣候促使太陽(yáng)能薄膜光伏組件導(dǎo)致焊料融化和封裝退化。熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)設(shè)備試驗(yàn)原理：通過(guò)控制光源，照射試樣當(dāng)組件中的一個(gè)電池或一組電池被遮光或損壞時(shí)，工作電流超過(guò)了該電池或電池組降低了短路電流，在組件中會(huì)發(fā)生熱斑加熱。此時(shí)后影響的電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)，消耗功率，從而引起過(guò)熱。熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)的熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽(yáng)電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的檢測(cè)試驗(yàn)。通過(guò)合...

熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)是僅對(duì)太陽(yáng)能薄膜光伏組件試驗(yàn)的設(shè)備，用于確定太陽(yáng)能薄膜光伏組件承受熱斑加熱效應(yīng)的能力，即測(cè)得模擬環(huán)境氣候促使太陽(yáng)能薄膜光伏組件導(dǎo)致焊料融化和封裝退化。

熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)設(shè)備試驗(yàn)原理：

通過(guò)控制光源，照射試樣當(dāng)組件中的一個(gè)電池或一組電池被遮光或損壞時(shí)，工作電流超過(guò)了該電池或電池組降低了短路電流，在組件中會(huì)發(fā)生熱斑加熱。此時(shí)后影響的電池或電池組被置于反向偏置狀態(tài)，消耗功率，從而引起過(guò)熱。

熱斑耐久試驗(yàn)機(jī)的熱斑耐久試驗(yàn)是為確定太陽(yáng)電池組件承受熱斑加熱效應(yīng)能力的檢測(cè)試驗(yàn)。通過(guò)合理的時(shí)間和過(guò)程對(duì)太陽(yáng)電池組件進(jìn)行檢測(cè)，用以表明太陽(yáng)電池能夠在規(guī)定的條件下長(zhǎng)期使用。熱斑檢測(cè)可采用紅外線(xiàn)熱像儀進(jìn)行檢測(cè)，紅外線(xiàn)熱像儀可利用熱成像技術(shù)，以可見(jiàn)熱圖顯示被測(cè)目標(biāo)溫度及其分布。

被測(cè)物品隱裂形成原因及檢測(cè)方法：

隱裂是指電池片中出現(xiàn)細(xì)小裂紋，電池片的隱裂會(huì)加速電池片功率衰減，影響組件的正常使用壽命，同時(shí)電池片的隱裂會(huì)在機(jī)械載荷下擴(kuò)大，有可能導(dǎo)致開(kāi)路性破壞，隱裂還可能會(huì)導(dǎo)致熱斑效應(yīng)。隱裂的產(chǎn)生是由于多方面原因共同作用造成的，組件受力不均勻，或在運(yùn)輸、倒運(yùn)過(guò)程中劇烈的抖動(dòng)都有可能造成電池片的隱裂。光伏組件在出廠(chǎng)前會(huì)進(jìn)行EL成像檢測(cè)，所使用的儀器為EL檢測(cè)儀。該儀器利用晶體硅的電致發(fā)光原理，利用高分辨率的相機(jī)拍攝組件的近紅外圖像，獲取并判定組件的缺陷。檢測(cè)儀能夠檢測(cè)太陽(yáng)能電池組件有無(wú)隱裂、碎片、虛焊、斷柵及不同轉(zhuǎn)換效率單片電池異?，F(xiàn)象。

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